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更新時間：2024-01-12 
瀏覽次數：485FG-310
FG-310多功能脈沖發(fā)生器做為可選附件，與多功能閃頻裝
置組合使用。系統(tǒng)包括信號發(fā)生器，延遲裝置，預置計數器，
與納秒脈沖系列閃頻裝置結合使用，用于提供圖像處理需要
的光源，物理學的多次曝光攝影處理，或觀察高速運動物體
的狀態(tài)等。
| 型號 | FG-310 |
|---|---|
| 信號周期設定 | 1 µs-1 s (1 Hz-1 MHz) 設定分辨率: 10 ns |
| 時間延遲設定 | 最大周期10 ns |
| 角度延遲設定 | 0-359°, off-setting 功能 |
| 輸出信號數量設定 | 1-1000 次(s) |
| 脈寬比 | ≤50% |
| 分頻比 | 1/1 -1/1000 |
| 電源 | 100-240 VAC ±10% |
| 尺寸(W × H ×D mm) | 215 ×99 ×250 mm |
| 重量 | 2.7 Kg |
在半導體硅板的加工過程中，越來越多的制造廠商開始重視對其
壽命的測試，這個測試涉及對金屬雜質含量及結晶瑕疵的判斷和
分析。因此日本NAPSON公司結合SUGAWARA的閃頻儀技術，
研發(fā)設計出針對硅板壽命測試的專用檢測設備。
壽命測試是指用氙氣閃光燈對硅板進行短暫照射增加正負極電子數
量，在硅體電子數量伴隨使用時間減少后，通過照射增加到原來的
數量，恢復到初始狀態(tài)。P型硅晶體通常會有大量正極電子，而N型
則是負極電子偏多，通過氙氣閃光燈的短暫照射，可以使各自的電
子數量恢復到原始狀態(tài)。
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